電子元器件的失效率是指在一定時間內(nèi)元器件失效的概率，是評估元器件可靠性的重要指標(biāo)之一。正確地測量電子元器件的失效率對于確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。電子元器件現(xiàn)貨供應(yīng)商-中芯巨能將為您介紹電子元器件失效率的測量方法及其應(yīng)用。

1.失效率的定義

失效率通常用λ（lambda）表示，表示在單位時間內(nèi)元器件發(fā)生失效的概率。常見的失效率單位有FIT（每十億小時故障次數(shù)）和MTBF（平均無故障時間），它們之間的關(guān)系為：

2.失效率的測量方法

測量電子元器件失效率的方法主要包括以下幾種：

-實際應(yīng)用數(shù)據(jù)統(tǒng)計法：通過對實際使用中元器件的失效數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析，計算出失效率。這種方法適用于已經(jīng)投入使用的產(chǎn)品，但需要足夠長的使用時間和大量的失效數(shù)據(jù)才能得到準(zhǔn)確的結(jié)果。

-加速壽命試驗法：通過將元器件置于高溫、高濕、高壓等惡劣環(huán)境下進行加速壽命試驗，從而加速元器件的老化過程，然后根據(jù)試驗數(shù)據(jù)計算出失效率。這種方法可以在相對較短的時間內(nèi)獲得失效率數(shù)據(jù)，但需要注意試驗條件與實際使用條件的匹配性。

-可靠性模型法：根據(jù)元器件的設(shè)計、制造工藝、材料等因素建立可靠性模型，然后通過對模型進行分析和計算來得出失效率。這種方法適用于新產(chǎn)品的設(shè)計階段，可以在產(chǎn)品尚未投入使用之前評估其可靠性。

3.失效率的影響因素

影響電子元器件失效率的因素很多，主要包括：

-工作環(huán)境：工作環(huán)境的溫度、濕度、壓力等因素會影響元器件的老化速度和失效率。

-制造工藝：元器件的制造工藝、材料選擇、封裝結(jié)構(gòu)等因素會影響元器件的品質(zhì)和可靠性。

-應(yīng)力：在使用過程中，元器件受到的電壓、電流、機械振動等應(yīng)力會導(dǎo)致元器件的劣化和失效。

-設(shè)計質(zhì)量：元器件的設(shè)計質(zhì)量直接影響了其可靠性和失效率。

4.應(yīng)用場景

電子元器件失效率的測量對于各種電子產(chǎn)品的設(shè)計、制造和維護都具有重要意義：

-產(chǎn)品設(shè)計階段：在產(chǎn)品設(shè)計階段，通過對元器件失效率的測量和評估，可以優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

-生產(chǎn)制造階段：在生產(chǎn)制造階段，可以根據(jù)元器件失效率的測量結(jié)果選擇合適的元器件供應(yīng)商和質(zhì)量控制方案，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

-產(chǎn)品維護階段：在產(chǎn)品維護階段，可以根據(jù)元器件失效率的測量結(jié)果制定合適的維護計劃和替換周期，降低產(chǎn)品維護成本。

5.實例分析

以某型號電容器為例，設(shè)計一個失效率測量實驗：

-實驗?zāi)康模簻y量該型號電容器的失效率，評估其可靠性。

-實驗步驟：

1.選取樣本：從供應(yīng)商處選取一批該型號電容器樣本，確保樣本數(shù)量足夠大且具有代表性。

2.設(shè)置實驗條件：根據(jù)加速壽命試驗的原理，設(shè)置合適的實驗條件，包括溫度、濕度、電壓等參數(shù)。通常可以選擇高于正常工作條件的實驗條件，以加速電容器的老化過程。

3.進行實驗：將電容器樣本放置在設(shè)定的實驗條件下進行加速壽命試驗，記錄實驗開始時間，并定期檢查電容器的狀態(tài)。

4.收集數(shù)據(jù)：定期記錄電容器失效的時間和數(shù)量，得到一系列失效數(shù)據(jù)。

5.分析結(jié)果：根據(jù)實驗數(shù)據(jù)計算出電容器的失效率，并進行統(tǒng)計分析，評估電容器的可靠性。

-實驗結(jié)果：通過實驗得到該型號電容器的失效率為1000FIT（每十億小時故障次數(shù)），即在一億小時內(nèi)平均有1000個電容器會發(fā)生失效。

-應(yīng)用場景：根據(jù)實驗結(jié)果，可以評估該型號電容器的可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計和維護提供參考依據(jù)。例如，在產(chǎn)品設(shè)計階段可以選擇更可靠的電容器型號，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性；在產(chǎn)品維護階段可以根據(jù)失效率制定合適的維護計劃，及時替換老化的電容器，降低產(chǎn)品維護成本。

電子元器件的失效率是評估其可靠性和穩(wěn)定性的重要指標(biāo)之一。通過正確地測量失效率，可以評估元器件的質(zhì)量和可靠性，并為產(chǎn)品設(shè)計、制造和維護提供參考依據(jù)。各種失效率測量方法和應(yīng)用場景的深入理解和掌握，對于提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低維護成本具有重要意義。如需采購電子元器件、申請樣片測試、BOM配單等需求，請加客服微信：13310830171。